半导体生产工艺中有很多重要的参数都和电阻有关,所以就对阻值的测量要求非常精密。本文就对两线法测电阻和四线法测电阻做一个简单介绍。
电阻测试的通常原理是恒流测压,测量仪器产生恒定数值的测量电流I,通过两根测量引线分别接触待测量的电阻Rt的两端电极。当电流I流过待测电阻Rt时,测得Rt上产生电压Ut。测量仪器测得电压进而计算出电阻阻值Rt=Ut/I。但这之中产生了另外一个问题,就是引线也是有电阻的。在测量阻值微小电阻的时候,引线上的电阻不能忽略不计,会对最后的测量结果产生影响。测试结果就变为Rt=(Ut+2Ur)/I。如图1。
图1
而采用四线测量时,由于四条引线分别形成电流回路和电压测试回路,电压测量回路的阻抗高,流过的电流可以忽略不计,电压测试回路的引线几乎没有电流,所以最终测得的电压即是待测电阻上的电压R=U/I。如图2。
图2
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